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Service de calibrage UKAS

CCI MP-HS

Idéal pour les environnements de recherche, le CCI MP-HS mesure tous les types de surface, depuis les surfaces très rugueuses jusqu'aux surfaces extrêmement lisses, permettant ainsi la mesure d'un large éventail de composants.

CCI MP

Le profileur 3D sans contact polyvalent, le CCI MP permet de mesurer des surfaces polies ou rugueuses, incurvées, plates ou étagées.

CCI HD

Utilisé dans les domaines de la fabrication et de la recherche, le CCI HD peut mesurer des films épais supérieurs ou égaux à 1,5 microns et des revêtements de film fin supérieurs ou égaux à 50nm.

CCI MP-HS

Quel que soit le composant concerné, quelle que soit la rapidité d'analyse nécessaire, vous pouvez faire confiance aux résultats de mesure d'aire 3D grâce au profileur optique sans contact révolutionnaire, le CCI MP-HS. Une caméra 1P grande vitesse est associée à une résolution verticale de 1/10 angström pour délivrer une analyse incroyablement détaillée de tous les types de surfaces, depuis les surfaces très rugueuses jusqu'aux surfaces extrêmement lisses.

Développez considérablement vos possibilités d'analyse sans augmenter la complexité de vos programmes d'analyse. Un large éventail de composants et de surfaces peuvent être mesurés sans devoir basculer entre les modes de mesure et sans procéder à un étalonnage intermédiaire de la lentille. Des méthodes standardisées, des procédures et l'élaboration de rapports facilitent l'intégration du CCI MP-HS dans votre système de management qualité. 

  • Matrice de pixels 1024 x 1024 pour grand champ de vision avec haute résolution
  • Piquage en X, Y et Z avancé, augmentant la plage de mesure
  • Répétabilité RMS < 0,2 angström, répétabilité d'étalon de hauteur < 0,1 %
  • Dispositif anti-vibrations intégré pour des performances sonores optimales
  • Logiciel Windows 7 64 bits en plusieurs langues

CCI MP

Le CCI MP constitue un type avancé d'interféromètre de mesure (un profileur 3D sans contact). Il utilise un algorithme de corrélation innovant et breveté pour rechercher le pic de cohérence et la position de phase d'un gabarit d'interférence produit par notre unité de numérisation optique de précision.

Le CCI MP est incomparable pour de nombreuses applications nécessitant une analyse de profil 3D haute précision. Un grand nombre d'objectifs sont disponibles, ils peuvent être installés simultanément dans la tourelle, permettant ainsi la mesure de nombreux types de surfaces. Une étape entièrement automatisée et des routines de mesure automatique améliorent le niveau déjà élevé de flexibilité.

La polyvalence est l'un des atouts majeurs du profileur 3D sans contact CCI MP. Les surfaces polies ou rugueuses, incurvées, plates ou étagées avec une réflectivité comprise entre 0,3 et 100 % peuvent être mesurées à l'aide d'un seul algorithme, sans avoir besoin de changer de mode pour les différentes surfaces et en évitant les problèmes liés au choix d'un mauvais mode. Tous les types de matériau peuvent être mesurés, notamment : verre, encres liquides, résine photosensible, métal, polymère et pâtes.

  • Matrice de pixels 1024 x 1024 pour grand champ de vision avec haute résolution
  • Nouveau piquage en X, Y et Z amélioré, jusqu'à 100 mm
  • de plage de mesure
  • Répétabilité RMS < 0,2 angström, répétabilité d'étalon de hauteur < 0,1 %
  • Résolution angström sur l'ensemble de la plage de mesure   
  • Logiciel Windows 7 64 bits en plusieurs langues

CCI HD

Le CCI HD est un profileur 3D optique sans contact avec une fonctionnalité de mesure de film fin et épais. Il utilise un algorithme de corrélation innovant et breveté pour rechercher le pic de cohérence et la position de phase d'un gabarit d'interférence produit par notre unité de numérisation optique de précision. Le nouveau CCI HD associe une fonctionnalité de mesure dimensionnelle sans contact leader à l'échelle internationale avec une technologie de film fin et épais avancée.

Le CCI HD a été conçu pour garantir les deux types de mesure d'épaisseur de film, ainsi que des fonctionnalités de mesure dimensionnelle et de rugosité. L'analyse de film épais a été utilisée au cours des années passées pour procéder à l'étude des revêtements semi-transparents allant jusqu'à environ 1,5 microns ; le seuil dépendant de l'indice de réfraction des matériaux et du NA de l'objectif. Les revêtements plus fins ont constitué un défi majeur.

Il est désormais possible d'étudier les revêtements à film fin supérieurs ou égaux à 50 nm (également en fonction de l'indice de réfraction) par interférométrie. Cette nouvelle approche permet l'étude des caractéristiques, telles que l'épaisseur de film, la rugosité d'interface, les défauts de piqûre des surfaces avec revêtement fin, le tout à l'aide d'une seule mesure.

  • Matrice de pixels 2048 x 2048 pour grand champ de vision avec haute résolution
  • Résolution 0,1 angström sur l'ensemble de la plage de mesure
  • Possibilité de gérer une réflectivité de surface de 0,3 % à 100 %
  • Répétabilité RMS < 0,2 angström, répétabilité d'étalon de hauteur < 0,1 %
  • Logiciel de contrôle et d'analyse 64 bits en plusieurs langues