Our website uses cookies to deliver to you the best possible experience.

If you continue to browse the site, we will assume that you are happy to receive cookies from the Taylor Hobson website. To learn more about Cookies click here.

Fabrication et recherche

Cette gamme d'outils métrologiques optiques sans contact inclut les CCI HD, CCI MP et CCI MP-HS. Ces instruments polyvalents sont parfaits pour les industries de fabrication et de recherche nécessitant une analyse de profil 3D haute précision. 
 

Composants optiques

Idéal pour l'industrie optique, le CCI Optics propose une fonctionnalité de mesure d'épaisseur de film fin unique, en faisant un instrument de métrologie parfait. Sa polyvalence permet une analyse détaillée d'un large éventail de surfaces, qu'elles soient très rugueuses ou extrêmement lisses.   
 

Luphos

Offering ultra-precise non-contact distance measurement for highest demand in industrial fabrication, quality control and sientific research. The core technology is the multiwavelength interferometry (MWLI®) uniquely offered by Luphos.