Les plateformes LUPHOScan HD sont des systèmes de métrologie interférométriques à balayage basés sur la technologie MWLI® (interférométrie multi-longueurs d'onde).
Elles sont conçues pour effectuer des mesures de forme 3D sans contact d'ultra précision, principalement sur des surfaces symétriques en rotation telles que d'asphères, de sphères, de méplats et de formes libres.
Parmi les principaux avantages du système, citons des vitesses de mesure rapides, une grande flexibilité en ce qui concerne les formes de surface inhabituelles (par exemple, des sommets plats ou des profils avec des points d'inflexion) et des diamètres d'objet maximaux allant jusqu'à 420 mm.
Des capacités de mesure inégalées
- Étude de tout type de surfaces symétriques en rotation - Formes libres légères, plates, sphériques et asphériques
- La plus haute précision jusqu'à 90° d'inclinaison de l'objet - Idéal pour mesurer les asphères fortes, raides et petites, y compris les moules de lentilles de téléphones portables
- Presque tous les matériaux - Transparent, spéculaire, opaque, poli, meulé
- Grands écarts sphériques - Aucune restriction, par exemple capable de mesurer les surfaces planes ou en ailes de mouette, ainsi que les profils avec points d'inflexion
- Très bonne reproductibilité des résultats de mesure - Meilleure stabilité d'une prise de vue à l'autre pour la détermination de la puissance et du PV
- Très faible bruit du système - Robuste contre les variations environnementales
- Vitesses de mesure rapides - Diamètres jusqu'à 420 mm
Cette nouvelle génération d'appareils fournit pour la première fois une précision de mesure absolue meilleure que ±50 nm (3σ) jusqu'à une pente de 90° de l'objet.
Le profilomètre/instrument 3d sans contact est idéal pour les applications où la plus haute précision est requise et essentielle au processus de fabrication. Ils sont particulièrement utiles pour les surfaces à forte pente, avec des directions de pas variables, et les petites surfaces, comme les moules pour les lentilles de smartphones. En réduisant considérablement le bruit et en améliorant la reproductibilité, Taylor Hobson a répondu aux besoins en constante évolution des concepteurs et des fabricants d'objectifs.
LUPHOSwap - Caractérisation complète du défaut de forme des pièces optiques
LUPHOSwap est une extension disponible pour les plateformes LUPHOScan HD qui permet la caractérisation complète des deux surfaces d'une lentille. Les deux surfaces sont mesurées successivement. Un concept de mesure unique permet une corrélation absolue des résultats mesurés sur les deux faces. C'est-à-dire qu'en même temps que les erreurs de forme sont mesurées, cet outil détermine l'épaisseur exacte de la lentille, les erreurs de coin et de décentrement des deux surfaces et leur orientation rotationnelle.
En outre, le positionnement de la monture de l'objectif peut être évalué. Cet outil puissant est basé sur la capacité de mesure absolue de la technologie de capteur LUPHOSmart, un concept de support unique et un capteur de référence supplémentaire (excentricité).